CMOS-MagView - Visualisierung und Analyse magnetischer Felder und Materialien

CMOS-MagView - Visualisierung und Analyse magnetischer Felder und Materialien von Matesy GmbH

Von: Matesy GmbH  08.11.2011
Keywords: Materialprüfung, Magnetfeld, Metallurgie

Die Matesy GmbH hat – aufbauend auf der MO-Sensortechnik – ein neues Messsystem für die effiziente Entwicklung und Fertigung von magnetischen Werkstoffen entwickelt. Dieses eignet sich hervorragend zur Untersuchung magnetischer Eigenschaften sowie darüber hinaus zur Analyse von Feldverteilungen und magnetischen Strukturen. Der CMOS-MagView wird dabei zur Qualitätskontrolle industriell weit verbreiteter magnetischer Materialien wie z. B. NdFeB, SmCo, AlNiCo und Hartferriten eingesetzt. So können zeitsparend und zuverlässig Magnetfelder von kunststoffgebundenen Permanentmagneten, Encodern, Stahllegierungen, Magnetstreifenkarten, Dünnschliffen magnetischer Mineralien und Domänenmaterial wie magnetische Formgedächtnislegierungen hochauflösend visualisiert und untersucht werden. Ebenso lassen sich forensische Aufgabenstellungen, z.B. Untersuchung von magnetischen Datenspeichermedien, wie Audio- und Videobänder, magnetischer Sichheitsmerkmale auf Banknoten und Dokumenten und auch die Wiederherstellung von mechanisch manipulierten Seriennummern auf Waffen oder Autoteilen bewältigen. Für das jeweilige Anwendungsfeld lassen sich die magnetooptischen Sensoren perfekt konfektionieren, so dass für jedes Material eine optimale Feldvisualisierung erreicht werden kann. Der CMOS-MagView arbeitet mit 12-Bit-CMOS-Kameratechnik, lässt sich leicht über eine USB-Schnittstelle an den PC anschließen und ermöglicht somit eine direkte Darstellung, Auswertung und Archivierung der magnetooptischen Aufnahmen mit Hilfe der integrierten Auswertungssoftware.

Keywords: Banknoten Prüfen, magnet charakterisierung, magnet messinstrumente, magnet messsysteme, Magnetfeld, magnetische Sicherheitsmerkmale, Magnetooptik, magnetooptische messsysteme, magnetooptische sensoren, Materialprüfung, Metallurgie,

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